梅特勒XPE205分析天平

梅特勒XPE205分析天平提供出色的分析稱量性能，并提供至高稱量安全性、*稱量效率且易于合規(guī)。梅特勒 XPE205 分析天平重復性誤差小，因此提供zui低的zui小稱量值

產(chǎn)品型號：XPE205電子天平
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時間：2021-03-20
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梅特勒XPE205分析天平

梅特勒XPE205 分析天平提供出色的分析稱量性能，并提供至高稱量安全性、*稱量效率且易于合規(guī)。 梅特勒 XPE205 分析天平重復性誤差小，因此提供zui低的zui小稱量值。質(zhì)量管理特征，例如創(chuàng)新的狀態(tài)指示燈和獲得的 StaticDetect 技術(shù)，可免除您在稱量方面的擔憂并獲得值得信賴的結(jié)果。憑借各種附件和多個連接選項，梅特勒 XPE205分析天平可滿足您日益增長的需求。您可在今后的許多年中實現(xiàn)豐富的稱量應(yīng)用。瑞士設(shè)計與制造，出色的質(zhì)量值得您信賴。

梅特勒XPE205分析天平提供以下智能稱量功能：
• 包括狀態(tài)指示燈在內(nèi)的新型彩色顯示屏，具有警告功能
• 獲得的 StaticDetect 功能
• 新的靜電消除技術(shù)
• TestManager™ 用于輕松的日常測試
• 性能更出色的網(wǎng)格秤盤
• LabX® 軟件用于當前在屏幕上提供定制的工作流程指南
梅特勒XPE205分析天平技術(shù)規(guī)格
處理能力zui高為 520g，可讀性為 0.01mg/0.1mg
*性能
USP41 的zui小重量可精確到 14 mg
無需觸摸操作
稱量，去皮，自動開關(guān)門 – 減少污染
無縫過程
RFID 選項；LabX：自動數(shù)據(jù)處理，SOP 指南
*的清潔流程
快速拆除稱量室，可在洗碗機中安全清洗
天平管理應(yīng)用程序
StatusLight™：天平水平，測試已完成，可隨時稱量
靜電解決方案
自動靜電檢測，緊湊式離子發(fā)生器XP504DR 分析天平

梅特勒 XPE205 分析天平技術(shù)參數(shù)

產(chǎn)品	量程	可讀性	zui小稱量值 (USP)，典型值	重復性	線性誤差（典型值）±
XPE105分析天平	120.0 g	0.01 mg	14.0 mg	0.015 mg	0.1 mg
XPE204	220.0 g	0.1 mg	80.0 mg	0.05 mg	0.2 mg
XPE205	220.0 g	0.01 mg	14.0 mg	0.015 mg	0.1 mg

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